當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 無損檢測設(shè)備 > X射線 > phoenix x|aminerphoenix x|aminer 入門級(jí)X射線檢測系統(tǒng)
簡要描述:phoenix x|aminer 入門級(jí)X射線檢測系統(tǒng)是一款操作簡便的入門級(jí)X射線檢測系統(tǒng), 具有高性能的微焦點(diǎn)無損檢測設(shè)備, 是專為半導(dǎo)體封裝, 電子元器件和電子組裝等領(lǐng)域高分辨率檢測要求而設(shè)計(jì). 現(xiàn)配備了新型CMOS平板探測器, 比圖像增強(qiáng)器具有更好的信噪比。
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phoenix x|aminer 入門級(jí)X射線檢測系統(tǒng)是一款操作簡便的入門級(jí)X射線檢測系統(tǒng), 具有高性能的微焦點(diǎn)無損檢測設(shè)備, 是專為半導(dǎo)體封裝, 電子元器件和電子組裝等領(lǐng)域高分辨率檢測要求而設(shè)計(jì). 現(xiàn)配備了新型CMOS平板探測器, 比圖像增強(qiáng)器具有更好的信噪比, 清晰度和實(shí)時(shí)成像能力, 并可選CT功能. 系統(tǒng)提供了功能強(qiáng)大和易用性好的phoenix x|act base二維軟件和 datos|x base CT軟件, 并允許手動(dòng)檢測和編程自動(dòng)檢測
phoenix x|aminer 入門級(jí)X射線檢測系統(tǒng)
主要特點(diǎn)和益處
無使用壽命限制160kV/20W高功率X射線管, 易于穿透高吸收性工件
可選高對(duì)比度CMOS平板探測器, 有更好的實(shí)時(shí)檢測能力
功能全面的CT軟件模塊, 操作簡單快速
設(shè)計(jì)人性化和操作簡便易用
可實(shí)時(shí)CAD數(shù)據(jù)匹配
自動(dòng)實(shí)時(shí)導(dǎo)航圖功能, 易于對(duì)樣品的上下表面和內(nèi)部進(jìn) 行快速定位
激光防碰撞設(shè)計(jì)以保護(hù)工件
占地面積小
安裝好的印刷電路板 µBGA的二維X射線圖像
電力電子器件 將功率半導(dǎo)體元器件的表面焊接到陶瓷基板上。在穿過3毫米厚的銅制散熱器后,基板上可見空洞,半導(dǎo)體的焊點(diǎn)無空洞。甚至連細(xì)鋁焊線也可看見。
| 半導(dǎo)體與其他電子元件 在任何時(shí)間通過任何檢測角度通過實(shí)時(shí)CAD數(shù)據(jù)匹配得到實(shí)時(shí)影像。
CT 圖像 |
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